《系统与芯片ESD防护的协同设计》 —2.1.2 汽车标准 ISO 10605

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华章计算机 发表于 2019/11/23 10:20:33 2019/11/23
【摘要】 本节书摘来自华章计算机《系统与芯片ESD防护的协同设计》一书中第2章,第2.1.2节,作者是[美]弗拉迪斯拉夫·瓦什琴科(Vladislav Vashchenko) [比]米尔科·肖尔茨(Mirko Scholz),韩雁 丁扣宝 张世峰 译。

2.1.2 汽车标准 ISO 10605

  系统级ESD测试的另一种广泛使用的通用标准是由ISO(国际标准化组织)发布,作为汽车工业主要指南的ISO 10605标准[23],它规定了静电放电产生的电干扰的道路车辆测试方法。

  创建IEC 61000-4-2是为了建立通用的和可重现的基础,用以评估遭受ESD的电气设备的性能。创建ISO 10605标准是为了指定所需的ESD测试方案,评估车辆使用的基于IEC 61000-4-2的电子模块性能。

  这一标准与IEC 61000-4-2有许多相似之处,特别在对封装级元器件的HBM、MM、CDM测试进行比较时。当然也有许多不同的方面,比如汽车工业通常要求通过的ESD应力水平要高得多,常常要求30 kV的合格水平。

  这一测试装置的等效电路(图2.11a)包括由一个150 pF或330 pF的充电电容和一个330 Ω或2 000 Ω的放电电阻组成的四个放电网络。这些是标准所要求的仅有的两个组合,尽管某些放电枪制造商提供330 pF充电电容与330 Ω电阻的组合。物理上,150 pF-330 Ω的组合代表人体通过金属部件到系统端口的放电,而330 pF-2 kΩ组合代表人体通过皮肤的直接放电。

  与IEC 61000-4-2不同,在ISO 10605中,放电枪的地是直接连接到上桌面平面(HCP)的。该标准与IEC 61000-4-2的另一个不同的方面是首选测试等级。虽然除了4个主要的等级外,IEC 61000-4-2定义了任意等级x,但很多IEC测试枪和ESD应力产生器有16 kV预充电限制。ISO 10605清楚地表明了测试严酷程度等级(图2.11b)。直接和间接放电的测试严酷程度等级是不同的。

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图2.11 a)ISO 10605放电电路原理图,在实际放电电路中L-C寄生可能会改变b)定义的应力等级[23]

  在ISO 10605与IEC 61000-4-2定义之间更详细的对比中,任何测试的枪尖移近速度应该在0.1~0.5 m/s之间。因为移近速度的测量不是轻而易举的事情,在实践中,ESD发生器应该尽可能快地移近DUT,直至放电发生,或放电尖端碰到放电点,并且没有引起DUT或发生器的损坏。

  类似地,电荷去除措施简要地定义为,将泄放导线与高阻(1 MΩ)按以下次序连接,可消除电荷积累:(1)在放电位置和地之间;(2)在DUT的接地点和地之间。如果有证据表明导线对试验结果没有任何影响,它可以保持与DUT的连接。

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  除了根据标准报告的C节,在“功能性能状态分类(FPSC)”方面的细节之外,评估测试结果类似于IEC 61000-4-2。

  与IEC 61000-4-2应力相比,当使用更大的预充电电容时,接入短路负载的二个波形

(图2.12)放电时间更长。ISO 10605标准并不是直接用于元器件级测试,但它是许多汽车制造商对其供应商的要求。

  一些ISO 10605 放电电流的较长应力持续时间直接影响片上ESD防护结构的设计。图2.13显示了一只ESD二极管在IEC 61000-4-2和ISO 10605放电期间的电流和最大温度。后者是用330 pF/330 Ω网络创建的。由于应力持续时间较长,ISO 10605放电应力条件下器件自热明显较高,需要在设计ESD防护器件时予以考虑,防止在ESD验证期间意外失效。文献[24]使用了一种片上ESD防护设计的方法,其中,用长时间的TLP测试仿真ISO 10605应力的较长持续

时间。

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图2.13 系统级ESD应力下ESD钳位器件内的电流和温度:基于330 pF/330 Ω的放电网络,应力等级8kV

a)IEC 61000-4-2 b)ISO 10605

  为对以上两节进行总结,表2.1编制了IEC 61000-4-2和ISO 10605标准主要指标的对比。IEC 61000-4-2的特别之处是未接地的DUT不能像接地设备那样自我放电。所以,在每次施加ESD测试脉冲前,应该去除电荷,要么等待足够长的时间,通过2×470 kΩ的泄放电阻进行,要么借助碳纤维刷。在空气放电测试方法中,放电枪在放电发生后,应尽可能快地移近并触碰DUT。

表2.1 IEC 61000-4-2和ISO 10605标准的基本特征对比

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  在ISO10605中,任何测试的枪尖移近速度应该在0.1~0.5 m/s之间。简单地将泄放导线与高阻(1 MΩ)按以下次序连接,可消除电荷积累:(1)在放电位置和地之间;(2)在DUT的接地点和地之间。如果有证据表明导线对试验结果没有任何影响,可以保持它与DUT的连接。


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