蓝桥杯 BASIC-23 VIP试题 芯片测试

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2002 发表于 2022/02/25 09:54:26 2022/02/25
【摘要】 试题 基础练习 芯片测试提交此题   评测记录  资源限制时间限制:1.0s   内存限制:512.0MB问题描述  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。  给出所有芯片的测试结果,问哪...

试题 基础练习 芯片测试

资源限制
时间限制:1.0s   内存限制:512.0MB
问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
解题思路
首先做这道题我们应该考虑到如何去除干扰因子,即坏芯片的错误随机检测,可能影响我们的判断,这时候我们仔细阅读题目会发现,题中已告知好芯片的数量是超过坏芯片的。这也就是说所有芯片对于某一芯片的检测结果统计,所得到的正确结果永远是会大于错误结果的,我们只需找到第一个好的芯片,按照他的测试结果,就能得出所有芯片的好坏测试

代码如下--


import java.util.Scanner;

public class Main {
    public static void main(String[] args) {
        Scanner sc= new Scanner(System.in);

        int n = sc.nextInt(); // 输入芯片个数

//定义二维数组

        int[][] arr = new int[n][n];

// 输入总体芯片测试结果
        for (int i = 0; i < n; i++) { 
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                arr[i][j] = scanf.nextInt();
            }
        }

        int temp = 0;

// 循环找出第一个好的芯片
        for (int j = 0; j < n; j++) { 
            int True = 0;
            int False = 0;

            for (int i = 0; i < n; i++) {
                if (i == j)
                    continue;
                else if (arr[i][j] == 0)
                    False++;
                else
                    True++;
            }
            if (True >= False) { // 通过一轮所有芯片对于某一芯片的测试比对得出结果
                temp = j;
                break;
            }

        }

        for (int i = 0; i < n; i++) { // 将这个好的芯片所得的测试结果按格式输出
            if (arr[temp][i] == 1)
                System.out.print(i + 1 + " ");
        }
    }
}


演示效果如下--
希望对大家有所帮助!
谢谢大家!
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