【java_蓝桥杯基础试题】基础练习 芯片测试
【摘要】 试题 基础练习 芯片测试资源限制时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。输入格式 ...
试题 基础练习 芯片测试
资源限制
时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
分析:
本题目要求的是测试出那几个芯片是"好芯片",题中说:每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。打个比方也就是说x为被检测芯片,并且x为"好芯片“,如果用”好芯片“检测x必然的结果是正确的也就是好芯片,如果x为”坏芯片“则给出”坏芯片“,给出的结果是正确的。然而如果用坏芯片检测x,输出的结果是随机的,有可能是”好“有可能是”坏",题目还说芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。用芯片检测x一定为“好芯片”的结果大于等于50%的,“坏芯片”<50%。通俗点:也就是大部分人说他是好芯片,他就是好芯片。
我们看代码:
import java.util.HashSet;
import java.util.Iterator;
import java.util.Scanner;
public class Main{
public static void main(String[] args) {
// TODO Auto-generated method stub
Scanner sc=new Scanner(System.in);
//用来存放芯片的数量n
int n=sc.nextInt();
//用来存放n*n表的
int[][] arr=new int[n][n];
//用来存放每个序号的芯片是好芯片被测试出的次数
int []h=new int[n];
//进行循环遍历赋值
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
arr[i][j]=sc.nextInt();
}
}
//对每个芯片测试其他芯片时为"好芯片"则对当前被测试型号芯片+1
//用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。
//而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
if(arr[i][j]==1&&i!=j) {
h[j]++;
}
}
}
//存储芯片为"好的"进行遍历
for (int i = 0; i < h.length; i++) {
//条件判断:如果当前型号被检测"好芯片"的次数
//次数如果大于50%证明是好芯片并输入
if(h[i]>=n/2)
System.out.print(i+1+" ");
}
}
}
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