CPK-过程能力指数

过程能力指数（Process capability index） 表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。




1、双侧规格


双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：






式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；、TTUL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。


2、有偏移情形

有偏移情形的过程能力指数： 当过程 统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，




显然不合格率（如图上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度为K：
这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。